电子元器件失效分析与检测

失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用，在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。KORIN失效分析实验室作为KORIN一站式服务的重要组成部分，拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队，各种先进的检测、分析仪器，同时依托于KORIN强大的多学科技术网络，可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。

电子元器件检测的意义：

元器件厂：获得改进产品设计和工艺的依据

整机厂：获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据
整机用户：获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性，树立企业形象，提高产品竞争力
失效分析技术的延伸应用
进货分析的作用：选择优质的供货渠道，防止假冒伪劣元器件进入整机生产线
良品分析的作用：学习先进技术的捷径

电子元器件的工艺适用性评价：
回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊
可焊性测试
金属层耐溶解性试验
耐焊接热试验

电子元器件的常规检测：
开封
取晶粒
芯片层次去除
去金凸块
染色
高解析度显微拍照
BGA(PCB)&IC电路提图服务
扫描电镜检查
高/低阶制成定点横截面切割
EMMILC 液晶热点侦测
OBIRCH 应用
静电放电（ESD）测试
探针应用
LCR应用
I-V曲线量测
激光切割
引线键合强度
芯片粘结强度
背面研磨
TEM
EELS
AFM
C-AFM
SIMS
TOF-SIM
AES
XPS
XRD
STEM
FIB-线路修补
X射线透视检查

超声波扫描检查（C-SAM）